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北師大紫外輻照計 UV-A 雙通道
簡要描述：UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 UV-A計量性能符合《JJG879-2015 紫外輻射照度計計量檢定規(guī)程》一級標準。
產品型號：- 廠商性質：代理商
- 更新時間：2025-03-11
- 訪 問 量： 458
產品介紹
產品概述
UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
UV-A計量性能符合《JJG879-2015 紫外輻射照度計計量檢定規(guī)程》一級標準。
產品特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
| 項目 | 參數(shù) | 備注 |
| 波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm | |
| 波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
| 輻照度測量范圍 | (0.1～200 000) μW/cm2 | |
| 相對示值誤差 | ±8％ | |
| 余弦特性(方向性響應)誤差 | 10% | |
| 線性誤差 | ±1.5% | |
| 換檔誤差 | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機30min后） | |
| 疲勞誤差 | 3% | |
| 零值誤差（滿量程FS） | ±1% | |
| 響應時間 | 1秒 | |
| 使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源 | 6F22型9V積層電池一只，亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電（不可充電） | |
| 整機功耗 | 0.2VA |
